IGBT高温高湿反偏试验箱老化系统

型 号

IGBT高温高湿反偏试验箱|H3TRB高温高湿反偏老化系统型号ES-SP216

符 合 标 准

MIL、GJB、JEDEC、GB；

试 验 条 件

85%RH，85℃（典型）；

适 用 范 围

适用于各种半导体器件进行高温高湿反偏试验（H3TRB）；

试 验 容 量

16 区×80位/区=1280位；

老化电源配置

标准配置4 路，*多可配置16 路；

老化电源规格

50V/5A 100V/3A 200V/2A 300V/1A 300V/2A 可根据需要任意选择；

电源切换装置 （选装件）

电源和老化板之间可以自由切换；

驱 动 检测板

数量：16块（可以根据实际使用要求减少配置）； 功能：监测和记录每个被试器件的漏电流参数；

器件保护方式

保护电阻/快速熔断保险丝；

试验状态监测

每区提供80 个测试接口，电脑实时监测各器件的漏电流；

老 化 测试板

采用耐175℃高温的H3TRB 专用高绝缘底板，表面经过专门的防潮湿处理，85%RH， 85℃条件下使用寿命可达两年以上（每次试验结束后要及时清洗，祛除表面污垢）； H3TRB 可以兼容HTRB 试验；

老 化 测试座

采用耐175℃，100%湿度的高温老化测试座；

老 化 板支架

304 不锈钢材料；

系统外形尺寸

W120cm×D130 cm×H190cm；

系统供电要求

输入380V 50HZ,  三相； *大功率：10kw；

系 统 总重量

约600Kg